營業時間

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    上午9:00 - 下午6:00

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公司資訊

123

團隊組成

賴君義

李魁然

張雍

莊清榮

林嘉和

陳夏宗

鍾財王

李夢輝

陳榮輝

魏大欽

蔡惠安

游勝傑

林義峰

費安東

葉瑞銘

劉偉仁

胡哲嘉

胡蒨傑

洪維松

王大銘

童國倫

孫一明

劉英麟

呂幸江

黃書賢

何豐名

樋口亞紺

黃俊仁

張博凱

熱門服務

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X 射線光電子能譜儀 (X-Ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)

180 分鐘

廠牌/型號 :Thermo Fisher / K-Alpha 放置地點 : 2102用途 : 全譜圖可獲得元素組成(定性 定量) 窄譜圖可獲得鍵結資訊。

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(depth)X 射線光電子能譜儀 (X-Ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)

60 分鐘

廠牌/型號 : Thermo Fisher / K-Alpha放置地點 : 2102用途 : 全譜圖可獲得元素組成(定性 定量) 窄譜圖可獲得鍵結資訊。

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(螢光)雷射共軛聚焦顯微鏡(Confocal Laser Microscope System, CLSM)

60 分鐘

廠牌/型號 : Nikon / A1R放置地點 : 2204用途 : 使用雷射光源進行點掃描,可獲得生物之 X Y Z t 四維影像。

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(雷射)雷射共軛聚焦顯微鏡(Confocal Laser Microscope System, CLSM)

60 分鐘

廠牌/型號 : Nikon / A1R放置地點 : 2204用途 : 使用雷射光源進行點掃描,可獲得生物之 X Y Z t 四維影像。

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高壓膜孔隙與透過濾量測裝置(High pressure gas permeation Analyzer ( Capillary Flow Porometer) Porous Materials Inc. PMI)

60 分鐘

廠牌/型號 : Porous Materials Inc. PMI/ CFP-1500A-AEXLX放置地點 : 3303用途 : 孔徑分布圖與氣體透過之量測。

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感應耦合電漿放射光譜儀(nductively Couple Plasma Optical Emissiospectrometry,ICP/OES)

60 分鐘

廠牌/型號 : PerkinElmer/2100DV放置地點 : 3303用途 : 水溶液中之重金屬(陽離子)檢測。

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雷射粒徑分析儀(乾式與濕式)(Laser Particle Size Distribution Analyzer)

60 分鐘

廠牌/型號 : Malvern / MasterSizer 2000放置地點 : 3303用途 : 粉體之粒徑分布 um(乾式法語濕式法)。

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Bruker 加熱式 原子力顯微鏡(Thermo Atomic Force Microscopy, TAFM)

180 分鐘

廠牌/型號 : Bruker / ICOM-2 SYS放置地點 : 2102用途 : 樣品表面形貌與粗糙度之量測(可到nm等級)與黏滯力之呈現。

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掃描式電子顯微鏡附能量分散式X 光光譜儀(Scanning Electronic Microscopy with Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy, SEM-EDX)

180 分鐘

廠牌/型號 : Hitachi/ S-3000N放置地點 : 薄一館1樓用途 : 樣品表面形貌之顯微觀察 (倍率:30000) 與元素組成之量測。

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冷場發射掃瞄式電子顯微鏡(Field Emission-Scanning Electron Microscopy, FE-SEM)

60 分鐘

廠牌/型號 : HITACHI/S-4800N放置地點 : 薄一館1樓用途 : 樣品表面形貌之顯微觀察 (倍率:100,000)。     

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熱重分析儀 (加熱爐) (PE)Thermogravimetric Analyzer ( TGA)

60 分鐘

廠牌/型號 :  PerkinElmer / TGA7放置地點 : 1102用途 : 藉由量測樣品在升溫條件下的重量損失(wt.% loss)得到物質殘餘量(Char %量變化),,含水量、含碳量、灰份,以及材料裂解溫度。

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熱微差掃描分析儀 (PE) Differential Scanning Calorimetry (DSC)

60 分鐘

廠牌/型號 :  PerkinElmer / DSC7放置地點 : 1102用途 : 樣品在受熱及溫度影響下的能量變化,所產生之熔融、蒸發、結晶、相轉變等物理現象,或化學變化時,圖譜中將會出現吸熱或放熱帶,進而可推測樣品之性質。

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動態機械熱分析儀 (揚氏係數測定儀)Dynamic Mechanical Analyzer (DMA)

60 分鐘

廠牌/型號 :  PerkinElmer / DMA7e放置地點 : 1102用途 : 偵測樣品在施加溫度、力量、或頻率改變下,其機械性質變化的情形,進而判定材料的熱、力學特性。

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高解析比表面積與孔隙度分析儀High Resolution Specific Surface Area and Porosimetry Analyzer (BET)

480 分鐘

廠牌/型號 : ASAP / 2020 plus放置地點 : 2303用途 : 利用氣體吸附法(氮氣或氬氣)量測粉體或塊材之比表面積及孔徑分佈 (體積法)。Brunauer , Emmett以及Teller三位化學家則認為氣體分子在吸附於樣品表面一層後,隨著壓力的改變仍會形成多層吸附的現象,但他們認為在形成多層吸附時,氣體分子吸附於單層分子上的機率較多層分子上為高,而多層分子無論是兩層或是三層或更多層的吸附機率則相同,這就是現在大家常用的BET SA方程式。

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熱重分析儀 (TA)Thermogravimetry Analysis (TGA)

180 分鐘

廠牌/型號 : TA instrument / Q500放置地點 : 2303用途 : 藉由量測樣品在升溫條件下的重量損失(wt.% loss)得到物質殘餘量(Char %量變化),,含水量、含碳量、灰份,以及材料裂解溫度。

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熱微差掃描分析儀 (TA)Differential Scanning Calorimetry (DSC)

240 分鐘

廠牌/型號 : TA instrument / Q100放置地點 : 2303用途 : 樣品在受熱及溫度影響下的能量變化,所產生之熔融、蒸發、結晶、相轉變等物理現象,或化學變化時,圖譜中將會出現吸熱或放熱帶,進而可推測樣品之性質。

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動態機械熱分析儀 (TA)Dynamic Mechanical Analyzer (DMA)

60 分鐘

廠牌/型號 : TA instrument / Q800放置地點 : 2303用途 : 偵測樣品在施加溫度、力量、或頻率改變下,              其機械性質變化的情形,進而判定材料的熱、力學特性。

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mocon氧氣透過率測定儀Oxygen permeability ML Module

480 分鐘

廠牌/型號 : mocon / OX-TRAN Modle 2/21放置地點 : 2302用途 : 測定樣品之氧氣透過率,包裝阻隔材料氣體透過率測試。

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mocon水蒸氣透過率測定儀water vaper permeability MN module WVTR

480 分鐘

廠牌/型號 : mocon Permatran-W Model 3/61放置地點 : 2302用途 : 測定樣品之水氣透過                                    如: 1.包裝阻隔材料水汽透過率測試         

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紫外光/可見光 光譜儀UV/VIS Spectrometer, UV/VIS

60 分鐘

廠牌/型號 :  PerkinElmer / Lambda 650S放置地點 : 2302用途 : 探測溶液對於紫外光、可見光吸收波長,光透過率。

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動態雷射粒徑與電位量測儀Particle Size and Zeta Potential Analyzer

60 分鐘

廠牌/型號 : Malvern / Zetasizer Nano ZS90放置地點 : 2302用途 : 測定樣品粒徑大小(nm)以及 粉體的Zeat-Potential。

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YANACO氣體滲透率分析儀Gas Permeation Rate Analyzer (GPA)

60 分鐘

廠牌/型號 : YANACO /  GTR-11MH放置地點 : 1102用途 : 量測樣品之氣體滲透通量 Barrer=(10−10 (Scm3 ) cm cm−2 s−1 torr−1)

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傅立葉轉換紅外線顯微光譜儀 (89年)Fourier-transform infrared spectroscopy (FTIR)

60 分鐘

廠牌/型號 : Perkin Elmer / Spectrum one放置地點 : 2302用途 : 樣品表面官能基之量測。

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界達電位量測儀Electrokinetic Analyzer for Solid Surface Analysis (Zeta Potential)

60 分鐘

廠牌/型號 : Anton Paar / surPASS放置地點 : 3303用途 : 以流體電位量測薄膜、纖維、粉體、固體表面之界達電位。

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膠體滲透層析儀 Gel permeation chromatography (GPC)

60 分鐘

廠牌/型號 : Viscotek / VE2001放置地點 : 2204用途 : 量測高分子之平均分子量及分子量分佈。

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生物型及水溶液原子力顯微鏡Bio-Atomic force microscope ( Bio-AFM)

60 分鐘

廠牌/型號 : JPK/ Axiovert 200放置地點 : 2202用途 : 固態或液態樣品表面粗糙度之量測。

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(定性)五合一多功能微量盤分光光譜儀Multi-mode Microplate Readers

60 分鐘

廠牌/型號 : Molecular Devices / SpectraMax® M5 放置地點 : 2202用途 : 對多孔盤或比色槽進行吸收光、螢光強度、冷光、偏極化螢光和時差式螢光的檢測。

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(定量)五合一多功能微量盤分光光譜儀Multi-mode Microplate Readers

60 分鐘

廠牌/型號 : Molecular Devices / SpectraMax® M5 放置地點 : 2202用途 : 對多孔盤或比色槽進行吸收光、螢光強度、冷光、偏極化螢光和時差式螢光的檢測。

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拉伸試驗機Tensile Tester

60 分鐘

廠牌/型號 : Instron  / 5544P3734放置地點 : 1204用途 : 1.測試樣品的機械性質,包含樣品的軟硬、韌脆、強弱     2. 由應力應變圖型初始點的斜率,得知楊氏係數來判斷樣品的軟硬

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總有機碳/總氮分析儀TOC/TNb Analyzer

60 分鐘

廠牌/型號 : Elementar / vario TOC select放置地點 : 2303用途 : 測試樣品的無機碳與總有機碳含量

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光學視頻接觸角量測儀 Contact Angle Goniometer

60 分鐘

廠牌/型號 : Sindatek / Model 100SB放置地點 : 1101用途 : 

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顯微紅外線光譜儀 (106年 )Fourier-transform infrared spectroscopy (FT/IR-4700) & microscppe (IRT-5200)

60 分鐘

廠牌/型號 : Jasco / FT/IR-4700 & IRT-5200放置地點 : 2204用途 : 

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高效液相層析儀High Performance Liquid Chromatography, HPLC

60 分鐘

廠牌/型號 : Shimadzu / Nexera XR-PDA放置地點 : 用途 : 使用固定相與流動相的極性差異,讓樣品成分因為親和係數,不同而在不同滯留時間被分離出來。

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