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X 射線光電子能譜儀 (X-Ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)
180 min
廠牌/型號 :Thermo Fisher / K-Alpha 放置地點 : 2102用途 : 全譜圖可獲得元素組成(定性 定量) 窄譜圖可獲得鍵結資訊。
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X 射線光電子能譜儀 (X-Ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)
(depth)X 射線光電子能譜儀 (X-Ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)
60 min
廠牌/型號 : Thermo Fisher / K-Alpha放置地點 : 2102用途 : 全譜圖可獲得元素組成(定性 定量) 窄譜圖可獲得鍵結資訊。
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(depth)X 射線光電子能譜儀 (X-Ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)
廠牌/型號 : Thermo Fisher / K-Alpha
放置地點 : 2102
用途 : 全譜圖可獲得元素組成(定性 定量) 窄譜圖可獲得鍵結資訊。
(螢光)雷射共軛聚焦顯微鏡(Confocal Laser Microscope System, CLSM)
60 min
廠牌/型號 : Nikon / A1R放置地點 : 2204用途 : 使用雷射光源進行點掃描，可獲得生物之 X Y Z t 四維影像。
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(螢光)雷射共軛聚焦顯微鏡(Confocal Laser Microscope System, CLSM)
廠牌/型號 : Nikon / A1R
放置地點 : 2204
用途 : 使用雷射光源進行點掃描，可獲得生物之 X Y Z t 四維影像。
(雷射)雷射共軛聚焦顯微鏡(Confocal Laser Microscope System, CLSM)
60 min
廠牌/型號 : Nikon / A1R放置地點 : 2204用途 : 使用雷射光源進行點掃描，可獲得生物之 X Y Z t 四維影像。
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(雷射)雷射共軛聚焦顯微鏡(Confocal Laser Microscope System, CLSM)
廠牌/型號 : Nikon / A1R
放置地點 : 2204
用途 : 使用雷射光源進行點掃描，可獲得生物之 X Y Z t 四維影像。
高壓膜孔隙與透過濾量測裝置(High pressure gas permeation Analyzer ( Capillary Flow Porometer) Porous Materials Inc. PMI)
60 min
廠牌/型號 : Porous Materials Inc. PMI/ CFP-1500A-AEXLX放置地點 : 3303用途 : 孔徑分布圖與氣體透過之量測。
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高壓膜孔隙與透過濾量測裝置(High pressure gas permeation Analyzer ( Capillary Flow Porometer) Porous Materials Inc. PMI)
廠牌/型號 : Porous Materials Inc. PMI/ CFP-1500A-AEXLX
放置地點 : 3303
用途 : 孔徑分布圖與氣體透過之量測。
感應耦合電漿放射光譜儀(nductively Couple Plasma Optical Emissiospectrometry，ICP/OES)
60 min
廠牌/型號 : PerkinElmer/2100DV放置地點 : 3303用途 : 水溶液中之重金屬(陽離子)檢測。
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感應耦合電漿放射光譜儀(nductively Couple Plasma Optical Emissiospectrometry，ICP/OES)
廠牌/型號 : PerkinElmer/2100DV
放置地點 : 3303
用途 : 水溶液中之重金屬(陽離子)檢測。
雷射粒徑分析儀(乾式與濕式)(Laser Particle Size Distribution Analyzer)
60 min
廠牌/型號 : Malvern / MasterSizer 2000放置地點 : 3303用途 : 粉體之粒徑分布 um(乾式法語濕式法)。
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雷射粒徑分析儀(乾式與濕式)(Laser Particle Size Distribution Analyzer)
廠牌/型號 : Malvern / MasterSizer 2000
放置地點 : 3303
用途 : 粉體之粒徑分布 um(乾式法語濕式法)。
Bruker 加熱式 原子力顯微鏡(Thermo Atomic Force Microscopy, TAFM)
180 min
廠牌/型號 : Bruker / ICOM-2 SYS放置地點 : 2102用途 : 樣品表面形貌與粗糙度之量測(可到nm等級)與黏滯力之呈現。
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Bruker 加熱式 原子力顯微鏡(Thermo Atomic Force Microscopy, TAFM)
廠牌/型號 : Bruker / ICOM-2 SYS
放置地點 : 2102
用途 : 樣品表面形貌與粗糙度之量測(可到nm等級)與黏滯力之呈現。
掃描式電子顯微鏡附能量分散式X 光光譜儀(Scanning Electronic Microscopy with Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy, SEM-EDX)
180 min
廠牌/型號 : Hitachi/ S-3000N放置地點 : 薄一館1樓用途 : 樣品表面形貌之顯微觀察 (倍率:30000) 與元素組成之量測。
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掃描式電子顯微鏡附能量分散式X 光光譜儀(Scanning Electronic Microscopy with Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy, SEM-EDX)
廠牌/型號 : Hitachi/ S-3000N
放置地點 : 薄一館1樓
用途 : 樣品表面形貌之顯微觀察 (倍率:30000) 與元素組成之量測。
冷場發射掃瞄式電子顯微鏡(Field Emission-Scanning Electron Microscopy, FE-SEM)
60 min
廠牌/型號 : HITACHI/S-4800N放置地點 : 薄一館1樓用途 : 樣品表面形貌之顯微觀察 (倍率:100,000)。
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冷場發射掃瞄式電子顯微鏡(Field Emission-Scanning Electron Microscopy, FE-SEM)
廠牌/型號 : HITACHI/S-4800N
放置地點 : 薄一館1樓
用途 : 樣品表面形貌之顯微觀察 (倍率:100,000)。
熱重分析儀 (加熱爐) (PE)Thermogravimetric Analyzer ( TGA)
60 min
廠牌/型號 : PerkinElmer / TGA7放置地點 : 1102用途 : 藉由量測樣品在升溫條件下的重量損失(wt.% loss)得到物質殘餘量(Char %量變化),,含水量、含碳量、灰份，以及材料裂解溫度。
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熱重分析儀 (加熱爐) (PE)Thermogravimetric Analyzer ( TGA)
廠牌/型號 : PerkinElmer / TGA7
放置地點 : 1102
用途 : 藉由量測樣品在升溫條件下的重量損失(wt.% loss)得到物質殘餘量(Char %量變化),,含水量、含碳量、灰份，以及材料裂解溫度。
熱微差掃描分析儀 (PE) Differential Scanning Calorimetry (DSC)
60 min
廠牌/型號 : PerkinElmer / DSC7放置地點 : 1102用途 : 樣品在受熱及溫度影響下的能量變化，所產生之熔融、蒸發、結晶、相轉變等物理現象，或化學變化時，圖譜中將會出現吸熱或放熱帶，進而可推測樣品之性質。
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熱微差掃描分析儀 (PE) Differential Scanning Calorimetry (DSC)
廠牌/型號 : PerkinElmer / DSC7
放置地點 : 1102
用途 : 樣品在受熱及溫度影響下的能量變化，所產生之熔融、蒸發、結晶、相轉變等物理現象，或化學變化時，圖譜中將會出現吸熱或放熱帶，進而可推測樣品之性質。
動態機械熱分析儀 (揚氏係數測定儀)Dynamic Mechanical Analyzer (DMA)
60 min
廠牌/型號 : PerkinElmer / DMA7e放置地點 : 1102用途 : 偵測樣品在施加溫度、力量、或頻率改變下，其機械性質變化的情形，進而判定材料的熱、力學特性。
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動態機械熱分析儀 (揚氏係數測定儀)Dynamic Mechanical Analyzer (DMA)
廠牌/型號 : PerkinElmer / DMA7e
放置地點 : 1102
用途 : 偵測樣品在施加溫度、力量、或頻率改變下，其機械性質變化的情形，進而判定材料的熱、力學特性。
高解析比表面積與孔隙度分析儀High Resolution Specific Surface Area and Porosimetry Analyzer (BET)
480 min
廠牌/型號 : ASAP / 2020 plus放置地點 : 2303用途 : 利用氣體吸附法(氮氣或氬氣)量測粉體或塊材之比表面積及孔徑分佈 (體積法)。Brunauer , Emmett以及Teller三位化學家則認為氣體分子在吸附於樣品表面一層後,隨著壓力的改變仍會形成多層吸附的現象,但他們認為在形成多層吸附時,氣體分子吸附於單層分子上的機率較多層分子上為高,而多層分子無論是兩層或是三層或更多層的吸附機率則相同,這就是現在大家常用的BET SA方程式。
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高解析比表面積與孔隙度分析儀High Resolution Specific Surface Area and Porosimetry Analyzer (BET)
廠牌/型號 : ASAP / 2020 plus
放置地點 : 2303
用途 : 利用氣體吸附法(氮氣或氬氣)量測粉體或塊材之比表面積及孔徑分佈 (體積法)。Brunauer , Emmett以及Teller三位化學家則認為氣體分子在吸附於樣品表面一層後,隨著壓力的改變仍會形成多層吸附的現象,但他們認為在形成多層吸附時,氣體分子吸附於單層分子上的機率較多層分子上為高,而多層分子無論是兩層或是三層或更多層的吸附機率則相同,這就是現在大家常用的BET SA方程式。
熱重分析儀 (TA)Thermogravimetry Analysis (TGA)
180 min
廠牌/型號 : TA instrument / Q500放置地點 : 2303用途 : 藉由量測樣品在升溫條件下的重量損失(wt.% loss)得到物質殘餘量(Char %量變化),,含水量、含碳量、灰份，以及材料裂解溫度。
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熱重分析儀 (TA)Thermogravimetry Analysis (TGA)
廠牌/型號 : TA instrument / Q500
放置地點 : 2303
用途 : 藉由量測樣品在升溫條件下的重量損失(wt.% loss)得到物質殘餘量(Char %量變化),,含水量、含碳量、灰份，以及材料裂解溫度。
熱微差掃描分析儀 (TA)Differential Scanning Calorimetry (DSC)
240 min
廠牌/型號 : TA instrument / Q100放置地點 : 2303用途 : 樣品在受熱及溫度影響下的能量變化，所產生之熔融、蒸發、結晶、相轉變等物理現象，或化學變化時，圖譜中將會出現吸熱或放熱帶，進而可推測樣品之性質。
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熱微差掃描分析儀 (TA)Differential Scanning Calorimetry (DSC)
廠牌/型號 : TA instrument / Q100
放置地點 : 2303
用途 : 樣品在受熱及溫度影響下的能量變化，所產生之熔融、蒸發、結晶、相轉變等物理現象，或化學變化時，圖譜中將會出現吸熱或放熱帶，進而可推測樣品之性質。
動態機械熱分析儀 (TA)Dynamic Mechanical Analyzer (DMA)
60 min
廠牌/型號 : TA instrument / Q800放置地點 : 2303用途 : 偵測樣品在施加溫度、力量、或頻率改變下， 其機械性質變化的情形，進而判定材料的熱、力學特性。
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動態機械熱分析儀 (TA)Dynamic Mechanical Analyzer (DMA)
廠牌/型號 : TA instrument / Q800
放置地點 : 2303
用途 : 偵測樣品在施加溫度、力量、或頻率改變下， 其機械性質變化的情形，進而判定材料的熱、力學特性。
mocon氧氣透過率測定儀Oxygen permeability ML Module
480 min
廠牌/型號 : mocon / OX-TRAN Modle 2/21放置地點 : 2302用途 : 測定樣品之氧氣透過率,包裝阻隔材料氣體透過率測試。
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mocon氧氣透過率測定儀Oxygen permeability ML Module
廠牌/型號 : mocon / OX-TRAN Modle 2/21
放置地點 : 2302
用途 : 測定樣品之氧氣透過率,包裝阻隔材料氣體透過率測試。
mocon水蒸氣透過率測定儀water vaper permeability MN module WVTR
480 min
廠牌/型號 : mocon Permatran-W Model 3/61放置地點 : 2302用途 : 測定樣品之水氣透過 如: 1.包裝阻隔材料水汽透過率測試
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mocon水蒸氣透過率測定儀water vaper permeability MN module WVTR
廠牌/型號 : mocon Permatran-W Model 3/61
放置地點 : 2302
用途 : 測定樣品之水氣透過 如: 1.包裝阻隔材料水汽透過率測試 2. 塗布膜片，抗溼性能分析 3. 電子光電業，如LED、LCD、環境抗濕試驗等。
紫外光/可見光 光譜儀UV/VIS Spectrometer, UV/VIS
60 min
廠牌/型號 : PerkinElmer / Lambda 650S放置地點 : 2302用途 : 探測溶液對於紫外光、可見光吸收波長，光透過率。
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紫外光/可見光 光譜儀UV/VIS Spectrometer, UV/VIS
廠牌/型號 : PerkinElmer / Lambda 650S
放置地點 : 2302
用途 : 探測溶液對於紫外光、可見光吸收波長，光透過率。
動態雷射粒徑與電位量測儀Particle Size and Zeta Potential Analyzer
60 min
廠牌/型號 : Malvern / Zetasizer Nano ZS90放置地點 : 2302用途 : 測定樣品粒徑大小(nm)以及 粉體的Zeat-Potential。
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動態雷射粒徑與電位量測儀Particle Size and Zeta Potential Analyzer
廠牌/型號 : Malvern / Zetasizer Nano ZS90
放置地點 : 2302
用途 : 測定樣品粒徑大小(nm)以及 粉體的Zeat-Potential。
YANACO氣體滲透率分析儀Gas Permeation Rate Analyzer (GPA)
60 min
廠牌/型號 : YANACO / GTR-11MH放置地點 : 1102用途 : 量測樣品之氣體滲透通量 Barrer=(10−10 (Scm3 ) cm cm−2 s−1 torr−1)
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YANACO氣體滲透率分析儀Gas Permeation Rate Analyzer (GPA)
廠牌/型號 : YANACO / GTR-11MH
放置地點 : 1102
用途 : 量測樣品之氣體滲透通量 Barrer=(10−10 (Scm3 ) cm cm−2 s−1 torr−1)
傅立葉轉換紅外線顯微光譜儀 (89年)Fourier-transform infrared spectroscopy (FTIR)
60 min
廠牌/型號 : Perkin Elmer / Spectrum one放置地點 : 2302用途 : 樣品表面官能基之量測。
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傅立葉轉換紅外線顯微光譜儀 (89年)Fourier-transform infrared spectroscopy (FTIR)
廠牌/型號 : Perkin Elmer / Spectrum one
放置地點 : 2302
用途 : 樣品表面官能基之量測。
界達電位量測儀Electrokinetic Analyzer for Solid Surface Analysis (Zeta Potential)
60 min
廠牌/型號 : Anton Paar / surPASS放置地點 : 3303用途 : 以流體電位量測薄膜、纖維、粉體、固體表面之界達電位。
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界達電位量測儀Electrokinetic Analyzer for Solid Surface Analysis (Zeta Potential)
廠牌/型號 : Anton Paar / surPASS
放置地點 : 3303
用途 : 以流體電位量測薄膜、纖維、粉體、固體表面之界達電位。
膠體滲透層析儀 Gel permeation chromatography (GPC)
60 min
廠牌/型號 : Viscotek / VE2001放置地點 : 2204用途 : 量測高分子之平均分子量及分子量分佈。
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膠體滲透層析儀 Gel permeation chromatography (GPC)
廠牌/型號 : Viscotek / VE2001
放置地點 : 2204
用途 : 量測高分子之平均分子量及分子量分佈。
生物型及水溶液原子力顯微鏡Bio-Atomic force microscope ( Bio-AFM)
60 min
廠牌/型號 : JPK/ Axiovert 200放置地點 : 2202用途 : 固態或液態樣品表面粗糙度之量測。
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生物型及水溶液原子力顯微鏡Bio-Atomic force microscope ( Bio-AFM)
廠牌/型號 : JPK/ Axiovert 200
放置地點 : 2202
用途 : 固態或液態樣品表面粗糙度之量測。
(定性)五合一多功能微量盤分光光譜儀Multi-mode Microplate Readers
60 min
廠牌/型號 : Molecular Devices / SpectraMax® M5 放置地點 : 2202用途 : 對多孔盤或比色槽進行吸收光、螢光強度、冷光、偏極化螢光和時差式螢光的檢測。
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(定性)五合一多功能微量盤分光光譜儀Multi-mode Microplate Readers
廠牌/型號 : Molecular Devices / SpectraMax® M5
放置地點 : 2202
用途 : 對多孔盤或比色槽進行吸收光、螢光強度、冷光、偏極化螢光和時差式螢光的檢測。
(定量)五合一多功能微量盤分光光譜儀Multi-mode Microplate Readers
60 min
廠牌/型號 : Molecular Devices / SpectraMax® M5 放置地點 : 2202用途 : 對多孔盤或比色槽進行吸收光、螢光強度、冷光、偏極化螢光和時差式螢光的檢測。
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(定量)五合一多功能微量盤分光光譜儀Multi-mode Microplate Readers
廠牌/型號 : Molecular Devices / SpectraMax® M5
放置地點 : 2202
用途 : 對多孔盤或比色槽進行吸收光、螢光強度、冷光、偏極化螢光和時差式螢光的檢測。
拉伸試驗機Tensile Tester
60 min
廠牌/型號 : Instron / 5544P3734放置地點 : 1204用途 : 1.測試樣品的機械性質，包含樣品的軟硬、韌脆、強弱 2. 由應力應變圖型初始點的斜率，得知楊氏係數來判斷樣品的軟硬
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拉伸試驗機Tensile Tester
廠牌/型號 : Instron / 5544P3734
放置地點 : 1204
用途 : 1.測試樣品的機械性質，包含樣品的軟硬、韌脆、強弱 2. 由應力應變圖型初始點的斜率，得知楊氏係數來判斷樣品的軟硬
總有機碳/總氮分析儀TOC/TNb Analyzer
60 min
廠牌/型號 : Elementar / vario TOC select放置地點 : 2303用途 : 測試樣品的無機碳與總有機碳含量
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總有機碳/總氮分析儀TOC/TNb Analyzer
廠牌/型號 : Elementar / vario TOC select
放置地點 : 2303
用途 : 測試樣品的無機碳與總有機碳含量
光學視頻接觸角量測儀 Contact Angle Goniometer
60 min
廠牌/型號 : Sindatek / Model 100SB放置地點 : 1101用途 :
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光學視頻接觸角量測儀 Contact Angle Goniometer
廠牌/型號 : Sindatek / Model 100SB
放置地點 : 1101
用途 :
顯微紅外線光譜儀 (106年 )Fourier-transform infrared spectroscopy (FT/IR-4700) & microscppe (IRT-5200)
60 min
廠牌/型號 : Jasco / FT/IR-4700 & IRT-5200放置地點 : 2204用途 :
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顯微紅外線光譜儀 (106年 )Fourier-transform infrared spectroscopy (FT/IR-4700) & microscppe (IRT-5200)
廠牌/型號 : Jasco / FT/IR-4700 & IRT-5200
放置地點 : 2204
用途 :
高效液相層析儀High Performance Liquid Chromatography， HPLC
60 min
廠牌/型號 : Shimadzu / Nexera XR-PDA放置地點 : 用途 : 使用固定相與流動相的極性差異，讓樣品成分因為親和係數，不同而在不同滯留時間被分離出來。
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高效液相層析儀High Performance Liquid Chromatography， HPLC
廠牌/型號 : Shimadzu / Nexera XR-PDA
放置地點 :
用途 : 使用固定相與流動相的極性差異，讓樣品成分因為親和係數，不同而在不同滯留時間被分離出來。
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